Material Characterization Using Ion Beams

Lingua: inglese

Editore: Springer, Humana Nov 2012, 2012

1468408585 / 9781468408584

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Visualizza gli articoli di questo venditore
Brossura

Condizione: Nuovo

EUR 53,49

EUR 60,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The extensive use of low-energy accelerators in non-nuclear physics has now reached the stage where these activities are recognized as a natural field of investigation. Many other areas in physics and chemistry have undergone similarly spectacular development: beam foil spectroscopy in atomic physics, studies in atomic collisions, materials implantation, defects creation, nuclear microanalysis, and so on. Now, this most recent activity by itself and in its evident connec tion with the others has brought a new impetus to both the funda mental and the applied aspects of materials science. A summer school on 'Material Characterization Using Ion Beams' has resulted from these developments and the realization that the use of ion beams is not restricted to accelerators but covers a wide energy range in the developing technology. The idea of the ion beam as a common denominator of many act1v1t1es dealing with surface and near-surface characterization was enthu siastically received by many scientists and a school on this subject received the positive endorsement of NATO. The Advanced Study Institute on Materials Science has assumed for us the status of an 'institution' leading to better contact among the many laboratories engaged in this field. The fourth Institute in this series was held in Aleria, Corsica, between August 22 and September 12, 1976.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 536 pp. Englisch.

Codice articolo 9781468408584

Titolo
Material Characterization Using Ion Beams
Autore
J. Thomas
Editore
Springer, Humana Nov 2012
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1468408585
ISBN 13
9781468408584
Peso dell'articolo
914 grammi
Dimensioni
244x170x29 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 60 a 60 giorni lavorativiDa 60 a 60 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 60,00EUR 75,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • PayPal

Descrizione dello Store

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Specializzazione

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Informazioni sull’azienda del venditore

buchversandmimpf2000

Germania