Materials Reliability in Microelectronics III

Ho Paul S. Frost Harold J. Filter William F. Rodbell Kenneth P.

ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484

Editore: Cambridge University Press, 2014

Lingua: Inglese

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Dati bibliografici

Titolo: Materials Reliability in Microelectronics III

Casa editrice: Cambridge University Press

Data di pubblicazione: 2014

Legatura: Brossura

Condizione: New

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Riassunto:

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