Materials Reliability in Microelectronics III

Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)

ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Editore: Cambridge University Press, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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