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Dati bibliografici

Titolo: Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (Paperback)
Editore: Cambridge University Press, Cambridge
Data di pubblicazione: 2014
Lingua: Inglese
ISBN 10: 1107409489
ISBN 13: 9781107409484
Rilegatura: Paperback
Condizione: new

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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