Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics, 2004

Carter R.J. Schulz S.E. Lu T.M. Kloster G.M. Hau-Riege C.S.

ISBN 10: 1107409225 ISBN 13: 9781107409224
Editore: Cambridge University Press, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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