Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices

Zhang, Wendong; Chou, Xiujian; Shi, Tielin; Ma, Zongmin; Bao, Haifei; Chen, Jingdong; Chen, Liguo; Li, Dachao; Xue, Chenyang

ISBN 10: 1118717961 ISBN 13: 9781118717967
Editore: John Wiley & Sons, 2017
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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