Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Lingua: inglese

Editore: Springer New York, 2011

1441993762 / 9781441993762

Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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Codice articolo 4176664

Titolo
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Autore
Manjul Bhushan|Mark B. Ketchen
Editore
Springer New York
Anno di pubblicazione
2011
Condizione
New
Rilegatura
Gebunden
Lingua
inglese
ISBN 10
1441993762
ISBN 13
9781441993762

moluna

Greven, Germania

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