Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Lingua: inglese

Editore: Springer New York Aug 2011, 2011

1441993762 / 9781441993762

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has become ever more important with the increased cost and complexity of development and manufacturing. In this timely volume, IBM scientists Manjul Bhushan and Mark Ketchen emphasize high speed characterization techniques for digital CMOS circuit applications and bridging between circuit performance and characteristics of MOSFETs and other circuit elements. Detailed examples are presented throughout, many of which are equally applicable to other microelectronic technologies as well. The authors' overarching goal is to provide students and technology practitioners alike a practical guide to the disciplined design and use of test structures that give unambiguous information on the parametrics and performance of digital CMOS technology. 408 pp. Englisch.

Codice articolo 9781441993762

Titolo
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Autore
Mark B. Ketchen
Editore
Springer New York Aug 2011
Anno di pubblicazione
2011
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
1441993762
ISBN 13
9781441993762
Peso dell'articolo
776 grammi
Dimensioni
241x160x28 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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