Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)

Lingua: inglese

Editore: Materials Research Society, 1985

0931837111 / 9780931837111

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Dati bibliografici

Titolo
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Autore
Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors
Editore
Materials Research Society
Anno di pubblicazione
1985
Condizione
UsedGood
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0931837111
ISBN 13
9780931837111

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