RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors

Lingua: inglese

Editore: SCITECH PUB, 2010

1891121898 / 9781891121890

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&Uumlber den AutorrnrnJianjun Gao received the B.Eng. and Ph.D. degrees from the Tsinghua University, and M. Eng. Degree from Hebei Semiconductor Research Institute. From 1999 to 2001, he was a Post-Doctoral Research Fellow at the Microelect.

Codice articolo 905725749

Titolo
RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Autore
Gao, Jianjun
Editore
SCITECH PUB
Anno di pubblicazione
2010
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
1891121898
ISBN 13
9781891121890

moluna

Greven, Germania

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