Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)

Lingua: inglese

Editore: Kluwer Academic Pub, 1997

079239920X / 9780792399209

Serie: Libro 2 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Titolo
Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Autore
Yervant Zorian
Editore
Kluwer Academic Pub
Anno di pubblicazione
1997
Condizione
Brand New
Rilegatura
Paperback
Lingua
inglese
ISBN 10
079239920X
ISBN 13
9780792399209
Peso dell'articolo
0,57 chilogrammi
Serie
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic Testing

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