Multi-Chip Module Test Strategies

Lingua: inglese

Editore: Springer US, 1997

079239920X / 9780792399209

Serie: Libro 2 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .

Codice articolo 5971820

Titolo
Multi-Chip Module Test Strategies
Autore
Zorian, Yervant
Editore
Springer US
Anno di pubblicazione
1997
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
079239920X
ISBN 13
9780792399209
Serie
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic Testing

moluna

Greven, Germania

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