New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices

Lingua: inglese

Editore: Elsevier Science Nov 2013, 2013

0323241433 / 9780323241434

Serie: Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices introduces the reader to transmission and scanning microscope image processing for metal and non-metallic microstructures. Engineers and scientists face the pressing problem in ULSI development and quality assurance: microscopy methods can't keep pace with the continuous shrinking of feature size in microelectronics. Nanometer scale sizes are below the resolution of light, and imaging these features is nearly impossible even with electron microscopes, due to image noise. This book presents novel 'smart' image processing methods, applications, and case studies concerning quality improvement of microscope images of microelectronic chips and process optimization. It explains an approach for high-resolution imaging of advanced metallization for micro- and nanoelectronics. This approach obviates the time-consuming preparation and selection of microscope measurement and sample conditions, enabling not only better electron-microscopic resolution, but also more efficient testing and quality control. This in turn leads to productivity gains in design and development of nano-scale ULSI chips. The authors also present several approaches for super-resolving low-resolution images to improve failure analysis of microelectronic chips. 110 pp. Englisch.…

Codice articolo 9780323241434

Titolo
New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Autore
Zeev Zalevsky
Editore
Elsevier Science Nov 2013
Anno di pubblicazione
2013
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
0323241433
ISBN 13
9780323241434
Peso dell'articolo
198 grammi
Dimensioni
228x151x10 mm
Serie
Libro 55 di 393: Micro and Nano Technologies

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