Next Generation HALT and HASS Robust Design of Electronics and Systems

Lingua: inglese

Editore: John Wiley & Sons Inc, 2016

1118700236 / 9781118700235

Serie: Libro 8 di 19 - Quality and Reliability Engineering

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Titolo
Next Generation HALT and HASS Robust Design of Electronics and Systems
Autore
Gray, Kirk A./ Paschkewitz, John J.
Editore
John Wiley & Sons Inc
Anno di pubblicazione
2016
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
1118700236
ISBN 13
9781118700235
Peso dell'articolo
0,5 chilogrammi
Serie
Libro 8 di 19: Quality and Reliability Engineering

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