Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance (Springer Theses)

van Schooten, Kipp

ISBN 10: 331903328X ISBN 13: 9783319033280
Editore: Springer, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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