Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis

John Keith Beddow, ed.

ISBN 10: 0849357853 ISBN 13: 9780849357855
Editore: Crc Pr I Llc, 1984
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

Venduto da Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.

Heritage Bookseller
Venditore AbeBooks dal 12 luglio 1996

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Molto buono

Prezzo:
EUR 4,38
EUR 3,86 shipping
Ships within U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello