Titolo: Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Editore: CRC Press
Data di pubblicazione: 2017
Lingua: Inglese
ISBN 10: 1315896265
ISBN 13: 9781315896267
Rilegatura: Rilegato
Condizione: New

Descrizione articolo

Riassunto

The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Informazioni sull?autore

J.K. Beddow

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