Pattern Recognition and Machine Intelligence : Third International Conference, Premi 2009 New Delhi, India, December 16-20, 2009 Proceedings

Chaudhury, Santanu (EDT); Mitra, Sushmita (EDT); Murthy, C.a. (EDT); Sastry, P.s. (EDT); Pal, Sankar Kumar (EDT)

ISBN 10: 3642111637 ISBN 13: 9783642111631
Editore: Springer, 2009
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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