Pattern Recognition and Machine Learning

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer New York Dez 2012, 2012

1461575680 / 9781461575689

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book contains the Proceedings of the US-Japan Seminar on Learning Process in Control Systems. The seminar, held in Nagoya, Japan, from August 18 to 20, 1970, was sponsored by the US-Japan Cooperative Science Program, jointly supported by the National Science Foundation and the Japan Society for the Promotion of Science. The full texts of all the presented papers except two t are included. The papers cover a great variety of topics related to learning processes and systems, ranging from pattern recognition to systems identification, from learning control to biological modelling. In order to reflect the actual content of the book, the present title was selected. All the twenty-eight papers are roughly divided into two parts--Pattern Recognition and System Identification and Learning Process and Learning Control. It is sometimes quite obvious that some papers can be classified into either part. The choice in these cases was strictly the editor's in order to keep a certain balance between the two parts. During the past decade there has been a considerable growth of interest in problems of pattern recognition and machine learn ing. In designing an optimal pattern recognition or control system, if all the a priori information about the process under study is known and can be described deterministically, the optimal system is usually designed by deterministic optimization techniques.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 356 pp. Englisch.…

Codice articolo 9781461575689

Titolo
Pattern Recognition and Machine Learning
Autore
King-Sun Fu
Editore
Springer US, Springer New York Dez 2012
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1461575680
ISBN 13
9781461575689
Peso dell'articolo
670 grammi
Dimensioni
254x178x20 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Germania

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