Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the Traps in Field-Effect Transistors

Libro 33 di 151: SpringerBriefs in Physics

Im, Seongil/ Kim, Jae/ Chang, Youn-gyoung

ISBN 10: 9400763913 ISBN 13: 9789400763913
Editore: Springer Verlag, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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