Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy : Probing the traps in field-effect transistors

Libro 33 di 151: SpringerBriefs in Physics

Seongil Im, Jae Hoon Kim, Youn-Gyoung Chang

ISBN 10: 9400763913 ISBN 13: 9789400763913
Editore: Springer Netherlands, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Ottimo Brossura

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