Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Egerton, R.F.

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Lingua: inglese

Editore: Springer, 2016

3319398768 / 9783319398761

Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.Books From California

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Titolo
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Autore
Egerton, R.F.
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2016
Condizione
Very Good
Rilegatura
hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
3319398768
ISBN 13
9783319398761
Edizione
seconda edizione

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