Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions (Springer Series in Materials Science (51))

Libro 79 di 233: Springer Series in Materials Science

Spaeth, Johann-Martin, Overhof, Harald

ISBN 10: 3642627226 ISBN 13: 9783642627224
Editore: Springer, 2012
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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