Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer US Dez 2010, 2010

1441953159 / 9781441953155

Serie: Libro 11 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. 192 pp. Englisch.…

Codice articolo 9781441953155

Titolo
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Autore
Bashir M. Al-Hashimi
Editore
Springer US, Springer US Dez 2010
Anno di pubblicazione
2010
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1441953159
ISBN 13
9781441953155
Peso dell'articolo
300 grammi
Dimensioni
235x155x11 mm
Serie
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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