X-ray fluorescence (XRF) and x-ray diffraction (XRD) are analytical techniques used to identify substances by examining the amount of energy given off from a substance during an x-ray. The most common errors in XRF analysis and XRD usually occur during preparation of the specimen. Editor(s): Buhrke, Victor E.; Jenkins, Ron; Smith, Deane K. Num Pages: 360 pages, bibliography. BIC Classification: MQH; PNFS. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 243 x 223 x 25. Weight in Grams: 702. . 1997. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

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Dati bibliografici

Titolo

Practical Guide for the Preparation of Specimens for X-ray Flourescence and X-ray Diffraction Analysis

Editore

John Wiley and Sons Ltd

Data di pubblicazione

1997

Lingua

Inglese

ISBN 10

0471194581

ISBN 13

9780471194583

Rilegatura

Rilegato

Condizione

New

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Riassunto

Das erste Buch, das die leistungsstarken Analyseinstrumente der R�ntgendiffraktion und R�ntgen-Fluoreszenzspektrometrie sowie auch das Pr�parieren von Analyseproben behandelt. Jedes Kapitel liefert detaillierte Informationen, Schritt-f�r-Schritt-Anleitungen und Anregungen, wo man die notwendige Ausr�stung f�r Probenpr�parationen, Standards und Analysen findet. (10/97)

Informazioni sull?autore

VICTOR E. BUHRKE heads The Buhrke Company in Redwood City, California.

RON JENKINS is the general manager of the International Center for Diffraction Data in Newton Square, Pennsylvania.

DEANE K. SMITH is a professor emeritus in the Department of Geosciences at Pennsylvania State University.

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