A Precise Scaling Length for Depleted Regions (Microelectronic and Information Sciences Center Technical Report #24)

Schrimpf, R. D.; and R. M. Warner

Editore: Institute of Technology, University of Minnesota N.D.
Condizione: Usato - Molto buono Brossura

Venduto da Crossroad Books, Eau Claire, WI, U.S.A.

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