Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications: 20th Iberoamerican Congress, Ciarp 2015, Montevideo, Uruguay, November 9-12, 2015, Proceedings

Lingua: inglese

Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2015

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Titolo
Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications: 20th Iberoamerican Congress, Ciarp 2015, Montevideo, Uruguay, November 9-12, 2015, Proceedings
Autore
Pardo, Alvaro (Editor)/ Kittler, Josef (Editor)
Editore
Springer-Verlag New York Inc
Anno di pubblicazione
2015
Condizione
Brand New
Rilegatura
Paperback
Lingua
inglese
ISBN 10
3319257501
ISBN 13
9783319257501
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