Radiation Imaging Detectors Using SOI Technology
Lingua: inglese
Editore: Springer, Palgrave Macmillan Feb 2017, 2017
- Brossura
- Nuovo
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000
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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Silicon-on-Insulator (SOI) technology is widely used in high-performance and low-power semiconductor devices. The SOI wafers have two layers of active silicon (Si), and normally the bottom Si layer is a mere physical structure. The idea of making intelligent pixel detectors by using the bottom Si layer as sensors for X-ray, infrared light, high-energy particles, neutrons, etc. emerged from very early days of the SOI technology. However, there have been several difficult issues with fabricating such detectors and they have not become very popular until recently.This book offers a comprehensive overview of the basic concepts and research issues of SOI radiation image detectors. It introduces basic issues to implement the SOI detector and presents how to solve these issues. It also reveals fundamental techniques, improvement of radiation tolerance, applications, and examples of the detectors.Since the SOI detector has both a thick sensing region and CMOS transistors in amonolithic die, many ideas have emerged to utilize this technology. This book is a good introduction for people who want to develop or use SOI detectors.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 72 pp. Englisch.…
Codice articolo 9783031009051
- Titolo
- Radiation Imaging Detectors Using SOI Technology
- Autore
- Yasuo Arai
- Editore
- Springer, Palgrave Macmillan Feb 2017
- Anno di pubblicazione
- 2017
- Condizione
- Neu
- Rilegatura
- Taschenbuch
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 3031009053
- ISBN 13
- 9783031009051
- Peso dell'articolo
- 154 grammi
- Dimensioni
- 235x191x5 mm
Silicon-on-Insulator (SOI) technology is widely used in high-performance and low-power semiconductor devices. The SOI wafers have two layers of active silicon (Si), and normally the bottom Si layer is a mere physical structure. The idea of making intelligent pixel detectors by using the bottom Si layer as sensors for X-ray, infrared light, high-energy particles, neutrons, etc. emerged from very early days of the SOI technology. However, there have been several difficult issues with fabricating such detectors and they have not become very popular until recently.
This book offers a comprehensive overview of the basic concepts and research issues of SOI radiation image detectors. It introduces basic issues to implement the SOI detector and presents how to solve these issues. It also reveals fundamental techniques, improvement of radiation tolerance, applications, and examples of the detectors.
Since the SOI detector has both a thick sensing region and CMOS transistors in amonolithic die, many ideas have emerged to utilize this technology. This book is a good introduction for people who want to develop or use SOI detectors.
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