Random Fluctuations and Pattern Growth: Experiments and Models.; (NATO ASI Series E: Applied Sciences - Vol. 157)

Stanley, H. Eugene and Nicole Ostrowsky

ISBN 10: 0792300734 ISBN 13: 9780792300731
Editore: Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, 1988
Lingua: Inglese
Condizione: Usato Brossura

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