Rapid Reliability Assessment of VLSICs

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer Mär 2012, 2012

1461278791 / 9781461278795

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service. One possible approach that is described in this book is to make precise electrical measurements that may reveal those devices more likely to fail. The measurements assessed are of analog circuit parameters which, based on a knowledge of failure mechanisms, may indicate a future failure. . To incorporate these tests into the functional listing of very large scale integrated circuits consideration has to be given to the sensitivity of the tests where small numbers of devices may be defective in a complex circuit. In addition the tests ideally should require minimal extra test time. A range of tests has been evaluated and compared with simulation used to assess the sensitivity of the measurements. Other work in the field is fully referenced at the end of each chapter. The team at Lancaster responsible for this book wish to thank the Alvey directorate and SERe for the necessary support and encouragement to publish our results. We would also like to thank John Henderson, recently retired from the British Telecom Research Laboratories, for his cheerful and enthusiastic encouragement. Trevor Ingham, now in New Zealand, is thanked for his early work on the project. 216 pp. Englisch.

Codice articolo 9781461278795

Titolo
Rapid Reliability Assessment of VLSICs
Autore
A. P. Dorey
Editore
Springer US, Springer Mär 2012
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1461278791
ISBN 13
9781461278795
Peso dell'articolo
382 grammi
Dimensioni
244x170x12 mm

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