Reliability and Concurrent Validity of Dynamic Rotator Stability Test

Mathew K. V., Binoy/ Eapen, Charu/ P. Kumar, Senthil

ISBN 10: 6202065168 ISBN 13: 9786202065160
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2017
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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