Reliability of MEMS: Testing of Materials and Devices (Advanced Micro and Nanosystems)

ISBN 10: 3527314946 ISBN 13: 9783527314942
Editore: Wiley-VCH, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Rilegato

Venduto da Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 15 aprile 2021

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 318,10
Spedizione EUR 28,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello