Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)

Lingua: inglese

Editore: WileyBlackwell 2009-09-04, 2009

0471731722 / 9780471731726

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Titolo
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Autore
Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, RolfPeter Vollertsen, Giuseppe La Rosa, Jordi Sune, Stewart E. Rauch III, Timothy D. Sullivan
Editore
WileyBlackwell 2009-09-04
Anno di pubblicazione
2009
Condizione
New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0471731722
ISBN 13
9780471731726

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