Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)

ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Editore: Routledge, 2024
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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