Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Editore: Routledge, 2024
Nuovi Brossura

Da Best Price, Torrance, CA, U.S.A. Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Venditore AbeBooks dal 30 agosto 2024

Questo articolo specifico non è più disponibile.

Riguardo questo articolo

Descrizione:

SUPER FAST SHIPPING. Codice articolo 9780367207816

Segnala questo articolo

Riassunto:

This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST).

As a sequel to the widely acclaimed Computerized Multistage Testing: Theory and Applications (2014) by Yan, von Davier, and Lewis, this volume delves into the experiences, considerations, challenges, and lessons learned over the past years. It also offers practical approaches and solutions to the issues encountered. The topics covered include purposeful MST designs, practical approaches for optimal design, assembly strategies for accuracy and efficiency, hybrid designs, MST with natural language processing, practical routing considerations and methodologies, item calibration and proficiency estimation methods, routing and classification accuracy, added value of process data, prediction and evaluation of MST performance, cognitive diagnostic MST, differential item functioning, robustness of statistical methods, simulations, test security, the new digital large-scale Scholastic Aptitude Test, software for practical assessment and simulations, artificial intelligence impact, and the future of adaptive MST.

This volume is intended for students, faculty, researchers, practitioners, and education officers in the fields of educational measurement and evaluation in the United States and internationally.

Informazioni sull?autore:

Duanli Yan is a Director of Computational Research at Educational Testing Services, Princeton, New Jersey, USA. She is also an adjunct professor at Rutgers University and Fordham University and has extensive experience in innovative psychometric research and development. She has published many books and received many awards, including the 2016 AERA D Significant Contribution to Educational Measurement and Research Methodology Award, and the 2022 and 2023 NCME Bradley Hanson Award.

Alina A. von Davier is the Chief of Assessment at Duolingo, Pittsburgh, Pennsylvania, USA. She leads the Duolingo English Test research and development area. She is a researcher in computational psychometrics, machine learning, and education. Von Davier is an innovator and an executive leader with over 20 years of experience in EdTech and in the assessment industry. In 2022, she joined the University of Oxford as an Honorary Research Fellow, and Carnegie Mellon University as a Senior Research Fellow.

David J. Weiss is a Professor of Psychology at University of Minnesota, Minnesota, USA. He has been continuously active in computerized adaptive testing (CAT) research since 1970, including hosting six international CAT conferences. He co-founded the International Association for Computerized Adaptive Testing, the Assessment Systems Corporation, and the Insurance Testing Corporation and was the founding editor of Applied Psychological Measurement and the Journal of Computerized Adaptive Testing.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Dati bibliografici

Titolo: Research for Practical Issues and Solutions ...
Casa editrice: Routledge
Data di pubblicazione: 2024
Legatura: Brossura
Condizione: New

I migliori risultati di ricerca su AbeBooks

Foto dell'editore

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)
Editore: Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Brossura

Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Codice articolo 47847601-n

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 52,76
Spese di spedizione: EUR 16,99
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

YAN DUANLI
Editore: Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Brossura

Da: Speedyhen, London, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: NEW. Codice articolo NW9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 52,77
Spese di spedizione: EUR 46,43
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Duanli Yan
Editore: Taylor and Francis, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo PAP

Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

PAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Codice articolo GB-9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 56,19
Spese di spedizione: EUR 6,65
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

-
Editore: Routledge -, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo paperback

Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

paperback. Condizione: New. Codice articolo 6666-GRD-9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 56,72
Spese di spedizione: EUR 17,54
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)
Editore: Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Antico o usato Brossura

Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: As New. Unread book in perfect condition. Codice articolo 47847601

Contatta il venditore

Compra usato

EUR 59,42
Spese di spedizione: EUR 16,99
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)
Editore: Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Brossura

Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Codice articolo 47847601-n

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 59,50
Spese di spedizione: EUR 2,27
In U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Editore: Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Brossura

Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. In. Codice articolo ria9780367207816_new

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 59,63
Spese di spedizione: EUR 13,57
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Duanli Yan
Editore: Taylor & Francis Ltd, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Paperback / softback

Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Paperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 952. Codice articolo B9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 59,85
Spese di spedizione: EUR 22,95
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Duanli Yan
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Paperback
Print on Demand

Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Paperback. Condizione: new. Paperback. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST).As a sequel to the widely acclaimed Computerized Multistage Testing: Theory and Applications (2014) by Yan, von Davier, and Lewis, this volume delves into the experiences, considerations, challenges, and lessons learned over the past years. It also offers practical approaches and solutions to the issues encountered. The topics covered include purposeful MST designs, practical approaches for optimal design, assembly strategies for accuracy and efficiency, hybrid designs, MST with natural language processing, practical routing considerations and methodologies, item calibration and proficiency estimation methods, routing and classification accuracy, added value of process data, prediction and evaluation of MST performance, cognitive diagnostic MST, differential item functioning, robustness of statistical methods, simulations, test security, the new digital large-scale Scholastic Aptitude Test, software for practical assessment and simulations, artificial intelligence impact, and the future of adaptive MST.This volume is intended for students, faculty, researchers, practitioners, and education officers in the fields of educational measurement and evaluation in the United States and internationally. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST). This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Codice articolo 9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 60,05
Spese di spedizione: EUR 41,90
Da: Regno Unito a: U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Duanli Yan
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
Nuovo Paperback
Print on Demand

Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Paperback. Condizione: new. Paperback. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST).As a sequel to the widely acclaimed Computerized Multistage Testing: Theory and Applications (2014) by Yan, von Davier, and Lewis, this volume delves into the experiences, considerations, challenges, and lessons learned over the past years. It also offers practical approaches and solutions to the issues encountered. The topics covered include purposeful MST designs, practical approaches for optimal design, assembly strategies for accuracy and efficiency, hybrid designs, MST with natural language processing, practical routing considerations and methodologies, item calibration and proficiency estimation methods, routing and classification accuracy, added value of process data, prediction and evaluation of MST performance, cognitive diagnostic MST, differential item functioning, robustness of statistical methods, simulations, test security, the new digital large-scale Scholastic Aptitude Test, software for practical assessment and simulations, artificial intelligence impact, and the future of adaptive MST.This volume is intended for students, faculty, researchers, practitioners, and education officers in the fields of educational measurement and evaluation in the United States and internationally. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST). This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Codice articolo 9780367207816

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 61,83
Spese di spedizione: GRATIS
In U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello

Vedi altre 13 copie di questo libro

Vedi tutti i risultati per questo libro