Rietveld refinement of X-ray polycrystalline diffraction data and an introduction to GSAS software(Chinese Edition)

ZHENG ZHEN HUAN CHEN YU LONG

ISBN 10: 7516040606 ISBN 13: 9787516040607
Editore: China Building Materials Industry Press, 2024
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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