Rough Sets and Current Trends in Computing : Second International Conference, Rstc 2000 Banff, Canada, October 16-19, 2000 Revised Papers

Rsctc 200 (2000 Banff, Alta.); Yao, Yiyu (EDT); Ziarko, Wojciech (EDT)

ISBN 10: 3540430741 ISBN 13: 9783540430742
Editore: Springer, 2001
Lingua: Inglese
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