Rough Sets and Knowledge Technology : Second International Conference, Rskt 2007, Toronto, Canada, May 14-16, 2007, Proceedings

Yao, Jingtao (EDT); Lingras, Pawan (EDT); Wu, Wei-zhi (EDT); Szczuka, Marcin (EDT); Cercone, Nick J. (EDT)

ISBN 10: 3540724575 ISBN 13: 9783540724575
Editore: Springer, 2007
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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