Sampling, Wavelets, and Tomography

Lingua: inglese

Editore: Birkhäuser Boston Dez 2003, 2003

0817643044 / 9780817643041

Serie: Libro 12 di 88 - Applied and Numerical Harmonic Analysis

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Sampling, wavelets, and tomography are three active areas of contemporary mathematics sharing common roots that lie at the heart of harmonic and Fourier analysis. The advent of new techniques in mathematical analysis has strengthened their interdependence and led to some new and interesting results in the field. This state-of-the-art book not only presents new results in these research areas, but it also demonstrates the role of sampling in both wavelet theory and tomography. Specific topics covered include:\* Robustness of Regular Sampling in Sobolev Algebras \* Irregular and Semi-Irregular Weyl-Heisenberg Frames \* Adaptive Irregular Sampling in Meshfree Flow Simulation \* Sampling Theorems for Non-Bandlimited Signals \* Polynomial Matrix Factorization, Multidimensional Filter Banks, and Wavelets \* Generalized Frame Multiresolution Analysis of Abstract Hilbert Spaces \* Sampling Theory and Parallel-Beam Tomography \* Thin-Plate Spline Interpolation in Medical Imaging \* Filtered Back-Projection Algorithms for Spiral Cone Computed TomographyAimed at mathematicians, scientists, and engineers working in signal and image processing and medical imaging, the work is designed to be accessible to an audience with diverse mathematical backgrounds. Although the volume reflects the contributions of renowned mathematicians and engineers, each chapter has an expository introduction written for the non-specialist. One of the key features of the book is an introductory chapter stressing the interdependence of the three main areas covered. A comprehensive index completes the work.Contributors: J.J. Benedetto, N.K. Bose, P.G. Casazza, Y.C. Eldar, H.G. Feichtinger, A. Faridani, A. Iske, S. Jaffard, A. Katsevich, S. Lertrattanapanich, G. Lauritsch, B. Mair, M. Papadakis, P.P. Vaidyanathan, T. Werther, D.C. Wilson, A.I. Zayed 372 pp. Englisch.…

Codice articolo 9780817643041

Titolo
Sampling, Wavelets, and Tomography
Autore
Ahmed I. Zayed
Editore
Birkhäuser Boston Dez 2003
Anno di pubblicazione
2003
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0817643044
ISBN 13
9780817643041
Peso dell'articolo
723 grammi
Dimensioni
241x160x25 mm
Serie
Libro 12 di 88: Applied and Numerical Harmonic Analysis

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