Scale Space and PDE Methods in Computer Vision: 5th International Conference, Scale-Space 2005, Hofgeismar, Germany, April 7-9, 2005, Proceedings . Vision, Pattern Recognition, and Graphics)

Kimmel, Ron [Editor]; Sochen, Nir [Editor]; Weickert, Joachim [Editor];

ISBN 10: 3540255478 ISBN 13: 9783540255475
Editore: Springer, 2005
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Brossura

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