Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

Charles E. Lyman|Dale E. Newbury|Joseph Goldstein|David B. Williams|Alton D. Romig Jr.|John Armstrong|Patrick Echlin|Charles Fiori|David C. Joy|Eric Lifshin|Klaus-Rüdiger Peters

ISBN 10: 0306435918 ISBN 13: 9780306435911
Editore: Springer US, 1990
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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