Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.
Editore: Springer
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Descrizione:
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Dati bibliografici
Titolo: Scanning Electron Microscopy and X-Ray ...
Casa editrice: Springer
Legatura: hardcover
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