Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Editore: Springer, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

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