Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2017

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Titolo
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autore
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2017
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
149396674X
ISBN 13
9781493966745
Edizione
quarta edizione

Romtrade Corp.

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