Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein|Dale E. Newbury|Patrick Echlin|David C. Joy|Charles Fiori|Eric Lifshin

ISBN 10: 1461332753 ISBN 13: 9781461332756
Editore: Springer US, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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