Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein

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Lingua: inglese

Editore: Springer Nature Singapore Jan 2003, 2003

0306472929 / 9780306472923

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 689 pp. Englisch.

Codice articolo 9780306472923

Titolo
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autore
Joseph Goldstein
Editore
Springer Nature Singapore Jan 2003
Anno di pubblicazione
2003
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0306472929
ISBN 13
9780306472923
Edizione
terza edizione
Peso dell'articolo
1701 grammi
Dimensioni
263x187x34 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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