Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein

43 valutazioni di Goodreads

Lingua: inglese

Editore: Springer, Springer Sep 2011, 2011

1461276535 / 9781461276531

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Brossura

Condizione: Nuovo

EUR 106,99

EUR 60,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 1 disponibile

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA. High resolution imaging has been developed with the aid of an extensive range of field emission gun (FEG) microscopes. The magnification ranges of these instruments now overlap those of the transmission electron microscope. Low-voltage microscopy using the FEG now allows for the observation of noncoated samples. In addition, advances in the develop ment of x-ray wavelength and energy dispersive spectrometers allow for the measurement of low-energy x-rays, particularly from the light elements (B, C, N, 0). In the area of x-ray microanalysis, great advances have been made, particularly with the 'phi rho z' [Ij)(pz)] technique for solid samples, and with other quantitation methods for thin films, particles, rough surfaces, and the light elements. In addition, x-ray imaging has advanced from the conventional technique of 'dot mapping' to the method of quantitative compositional imaging. Beyond this, new software has allowed the development of much more meaningful displays for both imaging and quantitative analysis results and the capability for integrating the data to obtain specific information such as precipitate size, chemical analysis in designated areas or along specific directions, and local chemical inhomogeneities.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 844 pp. Englisch.…

Codice articolo 9781461276531

Titolo
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autore
Joseph Goldstein
Editore
Springer, Springer Sep 2011
Anno di pubblicazione
2011
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1461276535
ISBN 13
9781461276531
Edizione
seconda edizione
Peso dell'articolo
1554 grammi
Dimensioni
254x178x45 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 60 a 60 giorni lavorativiDa 60 a 60 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 60,00EUR 75,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • PayPal

Descrizione dello Store

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Specializzazione

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Informazioni sull’azienda del venditore

buchversandmimpf2000

Germania