Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Linda Sawyer David C. Joy J.R. Michael Linda C. Sawyer Eric Lifshin Patrick Echlin Charles E. Lyman D.C. Joy Dale E. Newbury Joseph Goldstein

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Editore: Springer, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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