Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Sawyer Linda Joy David C. Michael J.R. Sawyer Linda C. Lifshin Eric Echlin Patrick Lyman Charles E. Joy D.C. Newbury Dale E. Goldstein Joseph

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Editore: Springer, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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