Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Joseph Goldstein|Dale E. Newbury|David C. Joy|Charles E. Lyman|Patrick Echlin|Eric Lifshin|Linda Sawyer|J.R. Michael

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Editore: Springer US, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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